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ASTM E1250-1988(2005)

用电离室评定用于测试硅电子装置辐射强度的钴60辐照器低能伽玛部件的试验方法

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

实施日期: 1988-05-26

中标分类号: F80 - 能源、核技术 - 核仪器与探测器综合

ICS分类号: 31.020 - 电子学 - 电子元件综合

标准组织: ASTM - 美国材料与试验协会标准

全文来源: WF

中文关键词: 核能 电离 电子工程 电子仪器 硬度测量

语种: 汉语

页数: 11

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