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ASTM E2246-2005

使用光学干涉仪对薄反射膜进行应变梯度测量的试验方法

Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin,Reflecting Films Using an Optical Interferometer

实施日期: 2005-11-01

中标分类号: N50 - 仪器、仪表 - 物质成份分析仪器与环境监测仪器综合

ICS分类号: 37.040.20 - 成像技术 - 相纸、胶卷和暗盒

标准组织: ASTM - 美国材料与试验协会标准

全文来源: WF

中文关键词: 影片 梯度 干涉仪 测量 光学的 摄影 应变测量 薄膜

语种: 汉语

页数: 16

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