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ASTM E2382-2004(R2012)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

ICS分类号: 17.040.20 - 计量学和测量、物理现象 - 表面特征

标准组织: ASTM - 美国材料与试验协会标准

全文来源: WF

语种: eng

页数: 18

标准解读