查看标准

请选择需要导出的字段:

ASTM E668-2010

测定电子装置抗辐射性试验中吸收剂量用热致发光剂量测量装置的应用规程

Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation- Hardness Testing of Electronic Devices

实施日期: 2010-06-01

中标分类号: L04 - 电子元器件与信息技术 - 基础标准与通用方法

ICS分类号: 31.020 - 电子学 - 电子元件综合

标准组织: ASTM - 美国材料与试验协会标准

全文来源: WF

英文关键词: absorbed dose radiation-hardness testing thermoluminescent dosimeter TLD Threshold detectors--60 MeV X-irradiation Absorbed radiation dose Dosimetry Electrical conductors (semiconductors) Electronic hardness Electronic materials/applications Electron radiation Energy deposition--ionizing radiation Gamma radiation--electronic components/devices Silicon semiconductors Thermoluminescent dosimeter (TLD)

语种: 汉语

页数: 19

标准解读