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ASTM E668-2010
Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation- Hardness Testing of Electronic Devices
实施日期： 2010-06-01
中标分类号： L04 - 电子元器件与信息技术 - 基础标准与通用方法
ICS分类号： 31.020 - 电子学 - 电子元件综合
标准组织： ASTM - 美国材料与试验协会标准
全文来源： WF
英文关键词： absorbed dose radiation-hardness testing thermoluminescent dosimeter TLD Threshold detectors--60 MeV X-irradiation Absorbed radiation dose Dosimetry Electrical conductors (semiconductors) Electronic hardness Electronic materials/applications Electron radiation Energy deposition--ionizing radiation Gamma radiation--electronic components/devices Silicon semiconductors Thermoluminescent dosimeter (TLD)
语种： 汉语
页数： 19
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