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ASTM F1263-2011
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
适用范围：Overtesting should be done when (a) testing by variables is impractical because of time and cost considerations or because the probability distribution of stress to failure cannot be estimated with sufficient accuracy, and (b) an unrealistically large number of parts would have to be tested at the specification stress for the necessary confidence and survival probability.
实施日期： 2011-06-01
ICS分类号： 31.020 - 电子学 - 电子元件综合
标准组织： ASTM - 美国材料与试验协会标准
全文来源： WF
英文关键词： confidence rejection overtest data statistical analysis Acceptance criteria/testing Data analysis Electrical conductors (semiconductors) Estimated survival probability Failure end point--electronic components/devices Microelectronic devices Probability of survival Quality assurance (QA) Stress--electronic components/device
语种： 汉语
页数： 3
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