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ASTM F1467-1999(2005)e1

半导体装置和微电路电离辐射效应测试用X射线试验仪(大约10 keV光子)的使用指南

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

中标分类号: L40,L55 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: 31.020 - 电子学 - 电子元件综合

标准组织: ASTM - 美国材料与试验协会标准

全文来源: WF

英文关键词: ionizing radiation effects microcircuits radiation hardness semiconductor devices X-ray testing Electronic hardness Collimator/collimation Electrical conductors (semiconductors) Experimental design/evaluation Ionizing radiation Low-energy radiation Microelectronic devices Radiation exposure--electronic components/devices Radiation-hardness testing Semiconductor device testing

语种: 汉语

页数: 18

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