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BS 9450-1998
Integrated Electronic Circuits and Micro-Assemblies of Assessed Quality (Capability Approval Procedures):Generic Data and Methods of Test Incorporating Corrigendum No.1;CORR 10184;September 1998;
适用范围：To be read in conjunction with BS 9400:1970
实施日期： 1998-03-15
中标分类号： L56 - 电子元器件与信息技术 - 半导体集成电路
ICS分类号： 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学
标准组织： BS - 英国标准学会标准
全文来源： WF
中文关键词： 加速度试验 加速试验 附着力试验 认可试验 评估的质量 能力鉴定 电容器 电路 色码 合格 湿热试验 数据 缺陷 详细规范 导电体 电学测量 电气测试 电子设备及元件 耐久试验 环境测试 防火测试 易燃性 流程图 手册 冲击测试 检验 集成电路 布置 漏泄试验 作标记 机械测试 微型装配工艺 单片集成电路 剥离试验 质量评定 质量保证体系 质量控制 放射性示踪法 额定值 维修 电阻器 安全措施 抽样方法 剪切试验 软钎焊性试验 耐溶剂试验 规范(验收) 统计质量控制 技术文件 技术写作 试验设备 测试条件 热循环试验 厚膜电路 厚膜器件 薄膜电路 示踪法 晶体管 振动试验 外观检查(试验)
语种： 汉语
页数： 154
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