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BS EN 165000-2-1996

薄膜集成电路和混合集成电路.内部可视检验和专用试验

Integrierte Hybrid-und Schichtschaltungen. Innere Sichtkontrolle und spezielle Pruefungen Harmonized System of Quality Assessment for Electronic Components Film and Hybrid Integrated Circuits-Part 2:Internal Visual Inspection and Special Tests Circuits integres a bande et circuits integres hybrides. Inspection visuelle interne et essais specifiques

实施日期: 1996-10-15

中标分类号: L57,L58 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学

标准组织: BS - 英国标准学会标准

全文来源: WF

中文关键词: 宏观检查 外观检查(试验) 混合集成电路 膜集成电路 腐蚀检查 探伤 能力鉴定 集成电路 试验(质量保证) 放射性试验 认可试验 显微分析 电子设备及元件 定义 质量保证体系 评估的质量 质量保证 质量评估 电连接 声学检验

语种: 汉语

页数: 40

标准解读