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BS EN 60747-16-10-2004

半导体器件.单片微波集成电路的技术验收程序(TAS)

Halbleiterbauelemente. Pruefplan fuer die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule-TAS) fuer monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise Semiconductor devices Part 16-10:Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits Dispositifs a semiconducteurs. Format-cadre pour agrement de technologie (TAS) pour circuits integres monolithiques hyperfrequences

实施日期: 2004-11-09

中标分类号: L56 - 电子元器件与信息技术 - 半导体集成电路

ICS分类号: 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学

标准组织: BS - 英国标准学会标准

全文来源: WF

中文关键词: 芯片 交付 定义 测量技术 测量 电气工程 规范(验收) 试验 集成电路工艺 企业 开关电路 电子工程 微波电路 基本术语 符号 质量保证 控制图 集成电路 参数 认可 单片集成电路 尺寸选定 半导体器件 半导体存储器 单片的 微电子学 架设(施工作业) 半导体 电子设备及元件

语种: 汉语

页数: 58

标准解读