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BS EN 60749-17-2003

半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐射

Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Pruefverfahren. Neutronenbestrahlung Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17:Neutron irradiation Dispositifs a semiconducteurs. Methodes d'essais mecaniques et climatiques. Irradiation aux neutrons CORR 15223:June 29,2004

实施日期: 2003-06-19

中标分类号: L40 - 电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件综合

ICS分类号: 31.080.01 - 电子学 - 半导体器件综合

标准组织: BS - 英国标准学会标准

全文来源: WF

中文关键词: 气候试验 电气工程 破坏试验 试验 半导体 集成电路 中子射线 气候 辐射效应 环境试验 半导体器件 电学测量 电子工程 机械试验 电子设备及元件 元部件

语种: 汉语

页数: 10

标准解读