集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量第4部分:传导辐射的测量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002

BS EN 61967-4-2002

集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量第4部分:传导辐射的测量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002

Integrierte Schaltungen. Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz. Messung der leitungsgefuehrten Aussendungen. Messung mit direkter 1 Ohm/150 Ohm-Kopplung Integrated circuits Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz Part 4:Measurement of conducted emissions 1 ohm/150 ohm direct coupling method Circuits integres. Mesure des emissions electromagnetiques 150 kHz 1 GHz. Mesure des emissions conduites. Methode par couplage direct 1 ohm/15

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适用范围：This part of IEC 61967 specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission (EME) of integrated circuits by direct radio frequency (RF) current measurement with a 1 Ω resistive probe and RF voltage measurement using a 150 Ω coupling network. These methods guarantee a high degree of repeatability and correlation of EME measurements. IEC 61967-1 specifies general conditions and definitions of the test methods.

实施日期： 2002-08-19

中标分类号： L56 - 电子元器件与信息技术 - 半导体集成电路

ICS分类号： 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学

标准组织： BS - 英国标准学会标准

全文来源： WF

中文关键词：电流测量电气工程电磁辐射电子设备及元件频率范围集成电路测量测量技术印制电路板试验电路试验试验条件试验装置电压测量

语种：汉语

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集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量 第4部分:传导辐射的测量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002

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集成电路 150 kHz～1 GHz电磁辐射的测量第4部分:传导辐射的测量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002