查看标准

请选择需要导出的字段:

BS ISO 17331-2004+A1-2010

Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

实施日期: 2005-03-31

ICS分类号: 71.040.40 - 化工技术 - 化学分析

标准组织: BS - 英国标准学会标准

全文来源: WF

中文关键词: 化学分析和测试 定义(术语) 含量测定 精整 印制电路板 特性 硅片 光谱学 表面 全反射 薄片 X射线 X射线分析 X射线荧光光谱法

语种: eng

页数: 28

标准解读