Halbleiterbauelemente. Einzel-Halbleiterbauelemente. Feldeffekttransistoren. Vordruck fuer Bauartspezifikationen fuer gehaeusebezogene Feldeffekttransistoren fuer Schaltanwendungen Harmonized System of Quality Assessment for Electronic Components Semiconductor Devices-Discrete Devices-Field-Effect Transistors-Blank Detail Specification for Case-Rated Field-Effect Transistors for Switching Applications Dispositifs a semiconducteurs. Dispositifs discrets. Transistors a effet de champ. Specificatio

BS QC 750114-1996

Halbleiterbauelemente. Einzel-Halbleiterbauelemente. Feldeffekttransistoren. Vordruck fuer Bauartspezifikationen fuer gehaeusebezogene Feldeffekttransistoren fuer Schaltanwendungen Harmonized System of Quality Assessment for Electronic Components Semiconductor Devices-Discrete Devices-Field-Effect Transistors-Blank Detail Specification for Case-Rated Field-Effect Transistors for Switching Applications Dispositifs a semiconducteurs. Dispositifs discrets. Transistors a effet de champ. Specificatio

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实施日期： 1996-12-15

ICS分类号： 31.080.30 - 电子学 - 三极管

标准组织： BS - 英国标准学会标准

全文来源： WF

中文关键词：试验条件电子设备及元件资格鉴定检验质量评估半导体器件评估的质量认可试验规范(验收) 晶体管场效应晶体管详细规范质量保证体系

语种： eng

页数： 20

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