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CNS 12865-6-1991

数位微电子检验法(端子电容值)

Method of Test for Digital Microelectronics ( Terminal Capacitance )

发布日期: 1991-05-19

实施日期: 1991-05-19

中标分类号: L10 - 电子元器件与信息技术 - 电子元件综合

ICS分类号: 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学 ; 19.080 - 电工和电子试验

标准组织: CNS - 台湾标准

全文来源: WF

中文关键词: 检验 数字集成电路 数字电路 集成电路

语种: 汉语

标准解读