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CNS 6119-1988

单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-整流二极管连续动作试验

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Continuous Operation Test of Rectifier Diodes)

发布日期: 1980-08-13

实施日期: 1988-11-10

中标分类号: L43 - 电子元器件与信息技术 - 半导体整流器件

ICS分类号: 19.040 - 试验 - 环境试验 ; 19.080 - 电工和电子试验 ; 31.080.01 - 半导体器件综合

标准组织: CNS - 台湾标准

全文来源: WF

中文关键词: 半导体器件 环境试验 耐久试验 整流二极管 连续的 电气试验

语种: 汉语

标准解读