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DIN 50440-1998

半导体材料检验.用光导衰减法测定硅单晶复合载流子寿命;在杆上试件上测量

Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method

中标分类号: H82 - 冶金 - 元素半导体材料

ICS分类号: 29.045 - 电气工程 - 半导体材料

标准组织: DIN - 德国国家标准学会标准

全文来源: WF

语种: 汉语

页数: 8

标准解读