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DIN EN 62047-8-2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011); German version EN 62047-8:2011
ICS分类号： 31.080.01,31.220.01 - 电子学
标准组织： DIN - 德国国家标准学会标准
全文来源： WF
英文关键词： Bend testing Characteristics Components Definitions Films Layers Materials Measurement Measuring techniques Microelectronics Microsystem techniques Properties Samples Semiconductor devices Strips System engineering Tensile strain Testing Testing conditions Thin films Thin-film technology
语种： 汉语
页数： 20
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