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GB/T 17444-2013

红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

适用范围:本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

发布日期: 2013-11-12

实施日期: 2014-04-15

中标分类号: L52 - 电子元器件与信息技术 - 红外器件

ICS分类号: 31.020 - 电子学 - 电子元件综合

标准组织: GB - 国家标准

全文来源: 质检出版社

中文关键词: 标准化参数 焦平面阵列 测量 试验 规范 红外线 红外线辐射 半导体器件

语种: 汉语

页数: 27

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