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GB/T 4937.11-2018

半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

发布日期: 2018-09-17

实施日期: 2019-01-01

中标分类号: L40 - 电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件综合

ICS分类号: 31.080.01 - 电子学 - 半导体器件综合

标准组织: GB - 国家标准

全文来源: 质检出版社

语种: 汉语

页数: 7

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