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GB/T 5201-1994

带电粒子半导体探测器测试方法

Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors

发布日期: 1994-12-22

实施日期: 1995-10-01

作废日期: 2012-11-01

中标分类号: F80 - 能源、核技术 - 核仪器与探测器综合

ICS分类号: 17.240 - 计量学和测量、物理现象 - 辐射的测量

标准组织: GB - 国家标准

全文来源: 质检出版社

中文关键词: 试验 半导体器件 探测器 粒子辐射 粒子物理学

语种: 汉语

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