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GB/T 5201-2012

带电粒子半导体探测器测量方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors

适用范围:本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

发布日期: 2012-06-29

实施日期: 2012-11-01

中标分类号: F38 - 能源、核技术

ICS分类号: 27.120 - 能源和热传导工程 - 核能工程

标准组织: GB - 国家标准

全文来源: 质检出版社

中文关键词: 测量 半导体器件 探测器 粒子辐射 粒子物理学

语种: 汉语

页数: 16

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