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GB/T 6616-2009
Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
适用范围：本标准规定了用非接触涡流测定半导体硅片电阻率和薄膜薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径或边长大于25mm、厚度为0.1mm-1mm的硅单晶切割片、研磨片和抛光片的电阻率及硅薄膜的薄层电阻。测量薄膜薄层电阻时，衬底的有效薄层电阻至少应为薄膜薄层电阻的1000倍。硅片电阻率和薄膜薄层电阻测量范围分别为1.0*10<上标-3>Ω•cm-2*10<上标2>Ω•cm和2*10<上标3>Ω/□~3*10<上标3>Ω/□ 。
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