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IEC 60747-5-3-1997

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

发布日期: 1997-09-05

实施日期: 1997-09-05

作废日期: 2009-11-25

中标分类号: L50 - 电子元器件与信息技术 - 光电子器件综合

ICS分类号: 31.260 - 电子学 - 光电子学、激光设备

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 发光强度 半导体器件 电子设备及元件 绝缘测试 辐射强度 绝缘电阻 显示装置 光电子器件 分立器件 光电二极管 二极管 光耦合器 无照电流 电性质和电现象 集成电路 测量技术 试验 频带宽度

语种: 汉语

页数: 61

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