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IEC 60749-12 CORR 1-2003
SEMICONDUCTOR DEVICES. MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS. Part 12:Vibration,variable frequency CORRIGENDUM 1
适用范围：This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-12-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 12:Vibration, variable frequency)
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