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IEC 60749-12-2002

半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:可变频率振动

Semiconductor Devices. Mechanical and Climatic Test Methods. Part 12:Vibration,Variable Frequency Dispositifs A Semiconducteurs. Methodes D′essais Mecaniques et Climatiques. Partie 12:Vibrations,Frequences Variables First Edition

实施日期: 2002-04-01

中标分类号: L40 - 电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件综合

ICS分类号: 31.080.01 - 电子学 - 半导体器件综合

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 组件 环境试验 试验 气候试验 半导体器件 机械试验 振动 电学测量 电子设备及元件 半导体 气候 电气工程 集成电路 电子工程

语种: 汉语

页数: 16

标准解读