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IEC 60749-32-2002

半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑料包封器件的可燃性(外部诱发)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

发布日期: 2002-08-30

实施日期: 2002-08-30

中标分类号: L40 - 电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件综合

ICS分类号: 31.080.01 - 电子学 - 半导体器件综合

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 半导体 可燃性 外观检查(试验) 电子工程 电子设备及元件 半导体器件 电学测量 集成电路 环境试验 易燃性 组件 试验 耐力 电气工程 气候试验 温度变化 热学 机械试验

语种: 汉语

页数: 9

标准解读