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IEC 62047-10-2011/COR1-2012

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials

发布日期: 2012-02-28

实施日期: 2012-02-28

ICS分类号: 31.080.99 - 电子学 - 其他半导体器件

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

语种: eng

标准解读