查看标准

请选择需要导出的字段:

IEC 62047-3-2006

半导体器件 微电机器件 第3部分:拉伸测试用薄膜标准试验片

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 3:Thin film standard test piece for tensile testing Dispositifs. semiconducteurs. Dispositifs microélectromécaniques. Partie 3:Eprouvette d'essai normalisée en couche mince pour l'essai de traction Edition 1.0

发布日期: 2006-08-15

实施日期: 2006-08-01

中标分类号: L40,L04 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: 31.080.01,31.080.99,31.220.01 - 电子学

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 组件 材料 微电子学 微系统技术 精密度 特性 试样 半导体器件 规范(验收) 标准方法 符号 系统工程 拉伸应变 抗拉试验 试验 试验装置 试验体系 薄膜器件 薄膜技术

语种: 汉语

页数: 24

标准解读