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IEC 62132-2-2010

集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分:辐射抗扰度的测量 TEM单元和宽带TEM单元方法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

发布日期: 2010-03-30

实施日期: 2010-03-30

中标分类号: L55,L06 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 宽带 电路 定义 电气工程 电阻抗 电磁的 电磁兼容性 场强(电) 频率范围 抗扰度 阻抗 影响量 集成电路 辐射强度 干扰抑制 磁电效应 测量 测量条件 测量结果 测量技术 辐射影响 放射敏感性 试验

语种: 汉语

页数: 49

标准解读