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IEC 62374-2007

半导体器件 栅电介质薄膜的时间相关电介质击穿试验(TDDB)

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

发布日期: 2007-03-29

实施日期: 2007-03-29

中标分类号: L40 - 电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件综合

ICS分类号: 31.080.99 - 电子学 - 其他半导体器件

标准组织: IEC - 国际电工委员会标准

全文来源: WF

中文关键词: 元件 定义 电介质 电气工程 电子设备及元件 外壳 栅极 热室 寿命 半导体器件 应力 试验 试验装置 时间依赖的 电压 电压应力

语种: 汉语

页数: 43

标准解读