Device embedded substrate. Part 2-4:Guidelines. Test element groups (TEG)

IEC/TS 62878-2-4-2015

Device embedded substrate. Part 2-4:Guidelines. Test element groups (TEG)

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发布日期： 2015-03-27

实施日期： 2015-03-27

ICS分类号： 31.180 - 电子学 - 印制电路和印制电路板 ; 31.190

标准组织： IEC - 国际电工委员会标准

全文来源： WF

英文关键词： Base materials Components Design Electrical engineering Electronic engineering Electronic equipment and components Measurement Measuring techniques Microelectronics Printed circuits Printed-circuit boards Quality Quality assurance Reliability Substrates (insulating) Testing Testing conditions

语种： eng

标准解读

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