Trial-use standard for automatic test markup language (atml) for exchanging automatic test information via extensible markup language (xml):Exchanging test configuration information

IEEE 1671.4-2007

Trial-use standard for automatic test markup language (atml) for exchanging automatic test information via extensible markup language (xml):Exchanging test configuration information

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发布日期： 2007-12-05

实施日期： 2007-12-05

标准组织： IEEE - 美国电气电子工程师学会标准

全文来源： WF

中文关键词：应用自动自动化特性成本数据交换数据处理定义诊断电气工程电子工程评估可扩展标记语言检验寿命寿命试验标记语言产品试验生产控制质量保证可靠度规范(验收) 可试验性测试

英文关键词： XML

语种： eng

页数： 32

标准解读

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