Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

ISO 14606-2015

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

添加收藏

导出文件

发布日期： 2015-12-01

实施日期： 2015-12-01

ICS分类号： 71.040.40 - 化工技术 - 化学分析

标准组织： ISO - 国际标准化组织标准

全文来源： WF

英文关键词： Atomization Chemical analysis and testing Definitions Depth profile Determination of content Electron spectroscopy Finishes Ion beams Layers Optimization Reference materials Sputtering Surfaces X-ray spectrometry

语种： eng

页数： 16

标准解读

知识产权声明 | 服务承诺 | 联系我们 | 客户服务 | 关于我们

互联网出版许可证：新出网证(京)字042号互联网药品信息服务资格证书号：(京)-经营性-2011-0017 信息网络传播视听节目许可证许可证号：0108284

万方数据标准管理系统V1.0 证书号:软著登字第4252816号

京ICP证：010071 京公网安备11010802020237号京ICP备08100800号-1

客服电话：4000115888 客服邮箱：service@wanfangdata.com.cn 违法和不良信息举报电话：4000115888 举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn 举报专区：https://www.12377.cn

万方数据知识服务平台--国家科技支撑计划资助项目（编号：2006BAH03B01）©北京万方数据股份有限公司万方数据电子出版社