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ISO 16243-2011
Surface chemical analysis -- Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
适用范围：ISO 16243:2011 specifies the minimum level of information to be reported by the analyst following the analysis of a test specimen using X?ray photoelectron spectroscopy (XPS). It includes information that is to be recorded on or in the analytical record.
发布日期： 2011-12-01
实施日期： 2011-12-01
发布单位： IX-ISO
ICS分类号： 71.040.40 - 化工技术 - 化学分析
标准组织： ISO - 国际标准化组织标准
全文来源： WF
英文关键词： Chemical analysis and testing Chemical properties Data acquisition Data records Data representation Definitions Electron spectroscopy Finishes Minimum information Photoelectronics Properties Ratings Spectroscopy Surfaces X-ray X-ray analysis X-ray spectrometer
语种： 汉语
页数： 9
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