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JIS K0132-1997

扫描电子显微镜试验方法通则

General rules for scanning electron microscopy

中标分类号: A42 - 综合 - 物理学与力学

ICS分类号: 37.020 - 成像技术 - 光学设备

标准组织: JIS - 日本工业标准

全文来源: WF

中文关键词: 试验 电子管 电子显微镜 显微镜

语种: 汉语

页数: 21

标准解读