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KS C IEC 62047-18-2016

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials

发布日期: 2016-12-29

实施日期: 2016-12-29

ICS分类号: 31.080.99 - 电子学 - 其他半导体器件

标准组织: KS - 韩国国家标准

全文来源: WF

语种: eng

页数: 12

标准解读