全部退出     登录    |     注册     |

查看标准

请选择需要导出的字段：

NF C86-810-1983

电子元件 ＣＥＮＥＬＥＣ质量保证系统 特定环境温度下的可控硅 特殊规范

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : ambient-rated thyristor.

添加收藏
导出文件

实施日期： 1983-06-01

中标分类号： L43 - 电子元器件与信息技术 - 半导体整流器件

ICS分类号： 31.080.20 - 电子学 - 晶体闸流管

标准组织： NF - 法国国家标准

全文来源： WF

中文关键词： 尺寸 质量管理 热试验 详细规范 试验条件 合格试验 电性质和电现象 半导体闸流管 电气试验 电性能 鉴定试验 电子设备及元件 耐久试验 机械试验 作标记 环境试验 电子元部件 电气耐久试验

语种： 汉语

页数： 13

替代关系： 该标准替代了如下标准：NF C86-810-1981 (C86-810) ;NF C86-810/A1-1981 (C86-810/A1)

主题相关

标准解读

知识产权声明 | 服务承诺 | 联系我们 | 客户服务 | 关于我们

互联网出版许可证：新出网证(京)字042号 互联网药品信息服务资格证书号：(京)-经营性-2011-0017 信息网络传播视听节目许可证 许可证号：0108284

万方数据标准管理系统V1.0 证书号:软著登字第4252816号

京ICP证：010071 京公网安备11010802020237号 京ICP备08100800号-1

客服电话：4000115888 客服邮箱：service@wanfangdata.com.cn 违法和不良信息举报电话：4000115888 举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn 举报专区：https://www.12377.cn

万方数据知识服务平台--国家科技支撑计划资助项目（编号：2006BAH03B01）©北京万方数据股份有限公司 万方数据电子出版社