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NF C96-022-3-2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination.

ICS分类号: 31.080.01 - 电子学 - 半导体器件综合

标准组织: NF - 法国国家标准

全文来源: WF

中文关键词: 温度 电子设备及元件 尺寸 密封性 半导体器件 耐力 元部件 电气工程 环境 易燃性 热学 温度变化 电学测量 机械试验 气候试验 集成电路 外观检查(试验) 潮气 气候 半导体 试验 电子工程 大气压 环境试验

语种: eng

页数: 6

标准解读