半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法

SJ 2215.13-1982

Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers

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实施日期： 1983-07-01

作废日期： 2015-10-01

中标分类号： L54 - 电子元器件与信息技术 - 半导体光敏器件

标准组织： SJ - 电子行业标准

全文来源：电子四所

语种：汉语

页数： 1

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