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SJ 2215.13-1982

半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法

Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers

实施日期: 1983-07-01

作废日期: 2015-10-01

中标分类号: L54 - 电子元器件与信息技术 - 半导体光敏器件

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 半导体 光耦合器 绝缘电阻 测试方法

语种: 汉语

页数: 1

标准解读