半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法

SJ 2355.5-1983

Method of measurement for luminous intensity and half-intensity angle of light-emitting devices

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实施日期： 1984-07-01

作废日期： 2010-01-01

中标分类号： L53 - 电子元器件与信息技术 - 半导体发光器件

标准组织： SJ - 电子行业标准

全文来源：电子四所

语种：汉语

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