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SJ 2355.5-1983

半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法

Method of measurement for luminous intensity and half-intensity angle of light-emitting devices

实施日期: 1984-07-01

作废日期: 2010-01-01

中标分类号: L53 - 电子元器件与信息技术 - 半导体发光器件

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 半导体器件 半导体发光器件 测试方法 光强 半强度角

语种: 汉语

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