查看标准

请选择需要导出的字段:

SJ 2758-1987

同型外延层厚度的红外干涉测试方法

Method of measurement by infrared interference for thickness of homoepitaxial layers

实施日期: 1987-06-30

作废日期: 2010-02-24

中标分类号: L90 - 电子元器件与信息技术 - 电子技术专用材料

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 外延层 厚度 测试方法

语种: 汉语

页数: 0

标准解读