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SJ 3247-1989

同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法

Methods of measurement for extended-layer thickness of same-type Gallium arsenide by infra-red interference

实施日期: 1989-03-25

作废日期: 2010-02-24

中标分类号: L90 - 电子元器件与信息技术 - 电子技术专用材料

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 砷化镓 外延层 厚度 测试方法

语种: 汉语

页数: 0

标准解读