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SJ/T 10457-1993

俄歇电子能谱术深度剖析标准导则

Standard guide for depth profiling in auger electron spectroscopy

实施日期: 1994-06-01

中标分类号: L32 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: L32

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 俄歇电子能谱术 深度剖析 表面分析

语种: 汉语

页数: 6

标准解读