查看标准

请选择需要导出的字段:

SJ/T 10458-1993

俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy

实施日期: 1994-06-01

中标分类号: L32 - 电子元器件与信息技术

ICS分类号: L32

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: 电子四所

中文关键词: 样品处理 表面分析 俄歇电子能谱术 X射线光电子

语种: 汉语

页数: 11

标准解读