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SJ/T 11699-2018

IP核可测性设计指南

Guidelines for design for testability of IP cores

发布日期: 2018-02-09

实施日期: 2018-04-01

中标分类号: L55 - 电子元器件与信息技术 - 微集成电路综合

ICS分类号: 31.200 - 电子学 - 集成电路、微电子学

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: WF

语种: 汉语

页数: 20

标准解读