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SJ/T 2658.10-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽

Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 10:Modulation bandwidth

发布日期: 2015-10-10

实施日期: 2016-04-01

中标分类号: L53 - 电子元器件与信息技术 - 半导体发光器件

ICS分类号: 31.080 - 电子学 - 半导体器件

标准组织: SJ - 电子行业标准

全文来源: WF

语种: 汉语

页数: 6

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