实施日期:1971-04-15
Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik. Instrumentelle Spezifikation fuer energiedispersive Roentgenspektrometer mit Halbleiter-Dioden-Detektoren Microbeam analysis Instrumental specification for ener...
适用范围:Semiconductors, Detectors, X-ray fluorescence spectrometry, Spectroscopy, Semiconductor diodes, Electron beams, Chemical analysis and testing
实施日期:2002-12-19
Semiconductor converters - Part 2 : self-commutated semiconductor converters including direct d.c. converters.
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods
实施日期:2009-09-01
Semiconductor devices Discret devices Blank detail specification for bidirectional triode thyristors(triacs),ambient and case-rated,for currents greater than 100A
适用范围:本标准是晶闸管空白详细规范系列国家标准之一。
发布日期:2005-03-23 实施日期:2005-10-01
Harmonisiertes Guetebestaetigungssystem fuer Bauelemente der Elektronik. Vordruck fuer Bauartspezifikation:umgebungsbezogene Gleichrichter-Dioden Ambient-Rated Rectifier Diodes Système harmonise d'assu...
适用范围:This standard lists the ratings, characteristics and inspection requirements which shall be included as mandatory requirements in accordance with BS CECC 50000 in any detail specification for these dev...
实施日期:1982-04-15
Semiconductor devices discrete devices Part 3-2: Signal (including switching) and regulator diodes blank detail specification for voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes (excluding temper...
适用范围:IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
发布日期:2002-12-04 实施日期:2003-05-01
Tabular layouts of article characteristics for opto-electronic semiconductor devices
Requirements and test methods for LED screen in sports venues
适用范围:本标准规定了体育场馆用 LED 显示屏的分类、要求、检验方法及合格判定规则。 本标准适用于固定安装在体育场、综合体育馆和游泳跳水馆的 LED显示屏。其他类型场馆的显示屏可参考使用。 本标准不适用于移动式计时记分系统的专...
发布日期:2012-12-31 实施日期:2013-05-01
Measurement of Reverse Recovery Time for Semiconductor Diodes
发布日期:1980-10-29 实施日期:1980-10-29
Semiconductor devices-Discrete devices Part 3:Signal(including switching)and regulator diodes Section One-Blank detail specification for signal diodes,switching diodes and controlled-avalanche diodes
适用范围:IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
发布日期:2000-10-17 实施日期:2001-10-01
Detail specification for silicon voltage regulator diodes,Type 3DW50~202 ...
实施日期:1975-10-01
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