IEC 60748-23-3-2002

半导体器件 集成电路 第23-3部分:混合集成电路和薄膜结构 生产线认证 制造商的自审清单和报告

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-3: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Manufacturers'' self-audit checklist and report

适用范围：Applies to a high quality approval system for hybrid integrated circuits and film structures.This checklist is intended for the use of a hybrid microcircuit manufacturer''s internal assessment team. It...

发布日期：2002-05-17  实施日期：2002-05-17

GB/T 9424-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范

Blank detail specification for CMOS digital integrated circuits, series 4000

适用范围：IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程度，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。

发布日期：1998-11-17  实施日期：1999-06-01

BS EN 190116-1994

电子元器件质量评定协调系统.类规范.AC MOS数字集成电路

Harmonisiertes Guetebestaetigungssystem fuer Bauelemente der Elektronik. Familienspezifikation Family Specification:AC MOS Digital Integrated Circuits (S) Système Harmonise d'Assurance de la qualite de...

适用范围：Gives limiting conditions of use, recommended operating conditions and associated characteristics, test methods and procedures and inspection requirements for the family.

实施日期：1994-01-01

IEC 60748-2-20-2008

半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits

适用范围：IEC 60748-2-20:2008 aims at giving DC interface specifications for various sets of values, where each comprises the nominal value of power supply voltage, its tolerance, and the worst-case limit values...

发布日期：2008-02-27  实施日期：2008-02-27

CNS 12865-2-1991

数位微电子检验法(低位准输出电压)

Method of Test for Digital Microelectronics ( Low Level Output Voltage )

发布日期：1991-05-19  实施日期：1991-05-19

GB/T 17574.11-2006

半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only m...

适用范围：IEC 电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。

发布日期：2006-12-05  实施日期：2007-05-01

DIN EN 190103-1996

系列规范;数字集成电路低功率肖特基电路.系列54LS,64LS,74LS,84LS

Family specification - Digital integrated TTL low power Schottky circuits - Series 54 LS, 64 LS, 74 LS, 84 LS; German version EN 190103:1994

适用范围：The document contains the family specification: Digital Intergrated TTL Low Power Schottky Circuits; Series 54LS, 64LS, 74LS, 84LS.#,,#

NF C86-219-2013

电子元件。ＣＥＮＥＬＥＣ质量保证系统。前置ＴＴＬＳＣＨＯＴＴＫＹ逻辑集成电路。系列规范

Family Specification : TTL Advanced Schottky Digital Integrated Circuits - Series 54AS, 74AS.

BS CECC 90114-1990

Harmonisiertes Guetebestaetigungssystem fuer Bauelemente der Elektronik. Vordruck fuer Bauartspezifikation:Programmierbare logische arrays (PLA) Blank Detail Specification:Programmable Logic Arrays (PLA) (AMD 8166) March 15,1994 (T) Système harmonise d'assurance de la qualite des composants electroniques. Specification particulière cadre:resaux logiques programmables (PLA) Amd 1;

实施日期：1990-01-01

GB/T 17023-1997

半导体器件 集成电路 第２部分：数字集成电路 第二篇 ＨＣＭＯＳ数字集成电路 ５４／７４ＨＣ、５４／７４ＨＣＴ、５４／７４ＨＣＵ系列族规范

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2:Digital integrated circuits--Section two--Family specification for HCMOS digital integrated circuits series 54/74HC，54/74HCT，54/74HCU

适用范围：IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。这个体系的目的是确定质量评定程序，使得由一个成员国根据相应规范要求认为合格而放行的电子元器件，在所有其他成员国内不需要再进行检验就能同样地承认...

发布日期：1997-10-07  实施日期：1998-09-01

CNS 12865-7-1991

数位微电子检验法(驱动源、动态)

Method of Test for Digital Microelectronics ( Drive Source, Dynamic )

发布日期：1991-05-19  实施日期：1991-05-19

IEC 60748-2-7-1992

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第7节:熔丝式可编程双极只读存储器集成电路空白详细规范

Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section seven: Blank detail specification for integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories

发布日期：1992-10-23  实施日期：1992-10-23

BS QC 790107-1995

Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Integrierte Digitalschaltungen. Vordruck fuer Bauartspezifikation fuer integrierte dynamische Schreib-/Lesespeicher Harmonized System of Quality Assessment for Electronic Components Semiconductor Devices-Integrated Circuits:Digital Integrated Circuits Blank Detail Specification Integrated Circuit Dynamic Read/ Write Memories (IEC 748-2-10:1994) (T) Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Circuits integres numeriques. Specification particu

实施日期：1995-01-01

SJ/T 10196-1991

中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法

Measuring methods of MSI and SSI digital IC static parameter testers ...

实施日期：1991-12-01

JJF 1160-2006

中小规模数字集成电路测试设备校准规范

Calibration Specification of Small & Medium Scale Digital Integrated Circuit Testing System

适用范围： 本规范适用于测试时钟频率小于10MHz、没有时间测量单元的中小规模数字集成电路测试设备校准。

发布日期：2006-12-08  实施日期：2007-03-08

NF C96-032-1992

IEC 822 VSB IEC 821 VME总线的平行子系统总线

IEC 822 VSB. Parallel sub-system bus of the IEC 821 VMEBUS.

实施日期：1992-01-01

EN 190116-1993

Family Specification: AC MOS Digital Integrated Circuits

EN 190109-1994

Family Specification: Digital Integrated HC MOS Circuits Series HC/HCT/HCU

NF C82-110-1-2002

Electronic design automation libraries - Part 1 : input/output buffer information specifications (IBIS version 3.2).

NF C96-012-2000

Integrated circuits - Memory devices pin configurations.