Methods for chemical analysis of tellurium-Part 5:Determination of selenium content-2,3-Diamino naphthalene spectrophotometry
适用范围:本部分规定了碲中硒含量的测定方法。 本部分适用于碲中硒含量的测定。测定范围:0.0015%~0.030%。
发布日期:2010-11-22 实施日期:2011-03-01
Methods for chemical analysis of tellurium-Part 7:Determination of sulphur content-Inductively coupled plasma-atomic emission spectrometry
适用范围:本部分规定了碲中硫含量的测定方法。 本部分适用于碲中硫含量的测定。测定范围:0.0007%~0.01%。
发布日期:2010-11-22 实施日期:2011-03-01
Methods for determination of tellurium in steel
适用范围:この規格は,鋼中のテルル定量方法について規定する。
Methods for chemical analysis of copper anode slime-Part 5:Determination of tellurium content-Potassium dichromate titration method
适用范围:本部分规定了铜阳极泥中碲含量的测定方法。 本部分适用于铜阳极泥中碲含量的测定。测定范围:0.50%~10.00%
发布日期:2010-11-22 实施日期:2011-03-01
Higher purity copper cathode-Determination of selenium and tellurum contents-Catalytic oscillopolarographic method
实施日期:1992-10-01
Copper-Zinc-Bismuth-Tellurium alloys rod and bar
发布日期:2007-11-14 实施日期:2008-05-01
Methoden fuer die Analyse von hochgradig reinen Kupferkathoden Cu-CATH-1. Methode zum Bestimmen von Antimon,Arsen,Wismuth,Selen,Tellur und Zinn mittels Hydriderzeugung und Spektrophotometrie mit atomar...
适用范围:Method applicable at low levels in a high purity copper cathode.
实施日期:1990-07-30
Methoden fuer die Analyse von hochgradig reinen Kupferkathoden Cu-CATH-1. Methode zum Bestimmen von Antimon,Arsen,Wismut,Blei,Selen,Tellur und Zinn mittels Spektrophotometrie mit atomarer Absorption un...
适用范围:Applies to low levels in high purity copper cathode specified in BS 6017.
实施日期:1990-07-30
适用范围:本标准规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。 本标准适用于X值在0.100~0.350mo1范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。
实施日期:1998-05-01
Methods for chemical analysis of tungsten ores and molybdenum ores - Part 17:Determination of tellurium content
适用范围:警告:使用本部分的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。GB/T 14352的本部分规定了钨矿石、钼矿石中碲量的测定...
发布日期:2010-11-10 实施日期:2011-02-01
Specification for Cadmium-Zine Telluride Slice for Mercury-Cadmium Telluride film
适用范围:本规范规定了碲镉汞薄膜用碲锌镉(Cd(1-x)ZnxTe)晶片的要求、质量保证规定、检验方法和交货准备。本规范适用于碲镉汞薄膜外延生长用碲锌镉衬底晶片。
发布日期:1995-05-25 实施日期:1995-12-01
Verfahren zur Probenahme und Analyse von Blei und Bleilegierungen. Tellur in Blei und Bleilegierungen (photometrisches Verfahren) Method for The determination of tellurium in lead and lead alloys (Phot...
适用范围:Photometric method for tellurium contents 0.005 per cent to 0.1 per cent. Reagents, sampling methods and test procedure.
实施日期:1971-01-01
Methods for chemical analysis of lead and lead alloys--Determination of tellurium content
适用范围:本标准规定了铅及铅合金中碲含量的测定方法。 本标准适用于铅及铅合金中碲含量的测定。测定范围0.005 0%~1.00%。
发布日期:2000-08-28 实施日期:2000-12-01
Methods for chemical analysis of lead and lead alloys - Part 8: Determination of tellurium content
适用范围:本部分规定了铅及铅合金中啼含量的测定方法。 本部分适用于铅及铅合金中磅含量的测定。
发布日期:2012-12-31 实施日期:2013-10-01
实施日期:2012-08-01
Methods for chemical analysis of iron,steel and alloy--The sulfhydryl cotton fiber separation-oscillopolarographic method for the determination of tellurium content
实施日期:1988-03-01
请选择需要导出的字段:
请选择需要导出的字段:
知识产权声明 | 服务承诺 | 联系我们 | 客户服务 | 关于我们
互联网出版许可证:新出网证(京)字042号 互联网药品信息服务资格证书号:(京)-经营性-2011-0017 信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284
万方数据标准管理系统V1.0 证书号:软著登字第4252816号
京ICP证:010071 京公网安备11010802020237号 京ICP备08100800号-1
客服电话:4000115888 客服邮箱:service@wanfangdata.com.cn 违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn 举报专区:https://www.12377.cn
万方数据知识服务平台--国家科技支撑计划资助项目(编号:2006BAH03B01)©北京万方数据股份有限公司 万方数据电子出版社