IEC 60747-5-3-1997

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

发布日期：1997-09-05  实施日期：1997-09-05

BS EN 60512-2-6-2002

电子设备连接器 试验和测量 第2-6部分:带电连续性和接触电阻试验 试验2f:外壳带电连续性

Steckverbinder fuer elektronische Einrichtungen-Mess-und Pruefverfahren. Pruefungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands. Pruefung 2f. Durchgangswiderstand Gehaeuse (Schirm) Connectors...

实施日期：2002-05-24

NF C57-316-2013

Photovoltaic (PV) modules - Ammonia corrosion testing

EN 60512-25-4-2001

Connectors for Electronic Equipment - Tests and Measurements Part 25-4: Test 25d - Propagation Delay IEC 60512-25-4:2001

IEC 60900-2012

带电工作 交流1000 V和直流1500 V 以下专用手持工具

Live working. Hand tools for use up to 1 000 V a.c. and 1 500 V d.c.

实施日期：2012-06-14

DIN EN 60512-25-4-2002

电子设备的连接器.试验和测量.第25-4部分:25d:繁衍延迟

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4: Test 25d: Propagation delay (IEC 60512-25-4:2001); German version EN 60512-25-4:2001

实施日期：2002-08-01

BS EN 60079-18-2009

Explosive atmospheres. Equipment protection by encapsulation "m"

实施日期：2010-09-30

EN 61180-2-1994

High-Voltage Test Techniques for Low-Voltage Equipment - Part 2: Test Equipment (IEC 1180-2 : 1994)

DIN EN 60512-25-5-2005

电子设备连接器 试验和测量 第25-5部分:25e:回波损耗

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5: Test 25e - Return loss

实施日期：2005-05-01

ISO 19813-2006

道路车辆 点火系统 塞顶线圈和笔形线圈上高压保护罩的测试方法和要求

Road vehicles -- Ignition systems -- Test methods and requirements for high voltage boots on plug-top coils and pencil coils

发布日期：2006-10-01  实施日期：2006-10-01

NF C93-400-25-4-2002

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4 : test 25d - Propagation delay.

IEEE 433-2009

高压特低频大型交流旋转电机的绝缘试验的推荐实施规范

Recommended practice for insulation testing of ac electric machinery with high voltage at very low frequency

实施日期：2009-12-09

BS EN 60747-5-3-2001

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 试验方法 IEC 61747-5-3:1997;重新编号BS IEC 60747-5-3:1997

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices. Measuring methods

实施日期：1998-01-15

BS EN 60900-2004

在交流电1000V和直流电1500V的情况下带电作业用的手工工具

Arbeiten unter Spannung. Handwerkzeuge zum Gebrauch bis AC 1000 V und DC 1500 V Live working Hand tools for use up to 1 000 V a.c. and 1 500 V d.c. Travaux sous tension. Outils a main pour usage jusqu'...

实施日期：2004-07-09

BS IEC 60747-5-4-2006

Einzel-Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Bauelemente. Halbleiterlaser Semiconductor devices Discrete devices Part 5-4:Optoelectronic devices Semiconductor lasers Dispositifs a semiconducteurs. Dispositifs discrets. Dispositifs optoelectroniques. Lasers a semiconducteurs

实施日期：2006-06-30

IEEE C57.12.56-1986

IEEE Standard Test Procedure for Thermal Evaluation of Insulation Systems for Ventilated Dry-Type Power and Distribution Transformers

发布日期：1986-10-03 

IEEE 95-2002

带直流高压的交流电机(2300V及以上)的绝缘试验推荐实施规范

Recommended practice for insulation testing of ac electric machinery (2300 v and above) with high direct voltage

实施日期：2002-03-20

DIN EN 61215-2006

地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型

Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval

实施日期：2006-02-01

DIN EN 60079-18-2010

爆炸性气体环境 第18部分:用包封型“m”保护设备

Explosive atmospheres. Part 18:Equipment protection by encapsulation “m”

实施日期：2010-07-01

NF C93-400-2-6-2002

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-6 : electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f : housing (shell) electrical continuity.